平板探測(cè)器

XRD 0822 AP X射線數(shù)字平板探測(cè)器是基于8英寸非晶硅傳感器的二維光電二極管陣列，具有200微米像素尺寸，成像區(qū)域200mm*200mm，X射線通過(guò)閃爍屏轉(zhuǎn)換為光電子并被光電二極管轉(zhuǎn)化為數(shù)字信號(hào)，16位數(shù)字化信息可實(shí)現(xiàn)高動(dòng)態(tài)范圍及對(duì)比度，使檢測(cè)圖像邊界輪廓清晰、質(zhì)量媲美膠片。

XRD 0822 AP X射線數(shù)字平板探測(cè)器具有檢測(cè)速度快(非像素合并時(shí)幀速可達(dá)25fps)、可接收320kV的X射線直接照射等特點(diǎn)，被廣泛應(yīng)用于工業(yè)領(lǐng)域X射線檢測(cè)。

技術(shù)參數(shù)

● 面板         轉(zhuǎn)換屏          DRZ-PLUS

像素?cái)?shù)目        1024×1024

像素間距        200µm

動(dòng)態(tài)范圍        ≥88db

灰度等級(jí)        65536(16bit)

幀速度          25fps @200µm

50fps @400µm

能量范圍        20～450Kev

● 電子設(shè)備     電荷放大器      8×128通道ASIC

增益調(diào)節(jié)      0.25/0.5/1/2/4/8pF共6級(jí)可設(shè)置

ADC轉(zhuǎn)換      16bit

非線性            ≤1%