國(guó)產(chǎn)工業(yè)CT的發(fā)展歷史和性能優(yōu)點(diǎn)

隨著工業(yè)制造的快速發(fā)展，無(wú)損檢測(cè)技術(shù)在產(chǎn)品質(zhì)量控制中發(fā)揮著越來(lái)越重要的作用。作為無(wú)損檢測(cè)技術(shù)的重要分支，工業(yè)CT(ComputedTomography)技術(shù)在國(guó)內(nèi)外得到了廣泛應(yīng)用。然而，與國(guó)際品牌相比，國(guó)產(chǎn)工業(yè)CT的發(fā)展相對(duì)滯后。近年來(lái)，隨著國(guó)內(nèi)技術(shù)的不斷突破，該設(shè)備逐漸嶄露頭角，成為工業(yè)無(wú)損檢測(cè)領(lǐng)域的一股新生力量。國(guó)產(chǎn)工業(yè)CT的發(fā)展歷程可以追溯到上世紀(jì)90年代。當(dāng)時(shí)，國(guó)內(nèi)的無(wú)損檢測(cè)技術(shù)還處于起步階段，工業(yè)CT技術(shù)更是鮮為人知。為了打破國(guó)外技術(shù)的壟斷，國(guó)內(nèi)科研機(jī)構(gòu)和企業(yè)開始投...

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使用工業(yè)計(jì)算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)的細(xì)節(jié)注意

工業(yè)計(jì)算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)是一種工業(yè)計(jì)算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)是一種非破壞性的檢測(cè)技術(shù)，廣泛應(yīng)用于制造業(yè)、航空航天、汽車制造等領(lǐng)域，用于檢測(cè)產(chǎn)品的內(nèi)部缺陷、密度分布、尺寸測(cè)量等。為了確保ICT系統(tǒng)的正常運(yùn)行和檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性，使用過(guò)程中需要注意以下幾點(diǎn)：1.設(shè)備安裝與調(diào)試：在安裝ICT系統(tǒng)時(shí)，應(yīng)選擇遠(yuǎn)離振動(dòng)源、強(qiáng)磁場(chǎng)和強(qiáng)電場(chǎng)的地方，以免影響設(shè)備的正常工作。同時(shí)，確保設(shè)備接地良好，避免靜電干擾。在調(diào)試過(guò)程中，應(yīng)根據(jù)設(shè)備說(shuō)明書進(jìn)行操作，確保各個(gè)部件正常工作。2.樣品準(zhǔn)備：樣品的質(zhì)量和形狀對(duì)檢...

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深入了解工業(yè)CT：原理、用途與安裝使用方法

工業(yè)CT(ComputedTomography)是一種無(wú)損檢測(cè)技術(shù)，廣泛應(yīng)用于各個(gè)工業(yè)領(lǐng)域。它通過(guò)X射線掃描和計(jì)算機(jī)斷層成像技術(shù)，實(shí)現(xiàn)對(duì)物體內(nèi)部結(jié)構(gòu)的無(wú)損檢測(cè)和測(cè)量。本文將詳細(xì)介紹該設(shè)備的原理、用途以及安裝使用方法。首先，我們來(lái)了解工業(yè)CT的原理。該設(shè)備基于X射線和計(jì)算機(jī)斷層成像技術(shù)，通過(guò)發(fā)射X射線并接收透射信號(hào)，生成物體內(nèi)部結(jié)構(gòu)的二維圖像。然后，通過(guò)旋轉(zhuǎn)物體或掃描裝置，獲取不同角度的投影數(shù)據(jù)。最后，利用計(jì)算機(jī)重建算法將這些投影數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化為物體內(nèi)部的斷層圖像，形成三維結(jié)構(gòu)。接下...

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微焦點(diǎn)CT：微觀世界的“放大鏡”

微焦點(diǎn)CT，全稱為微焦點(diǎn)X射線計(jì)算機(jī)斷層掃描，是一種先進(jìn)的醫(yī)學(xué)成像技術(shù)。它的主要特點(diǎn)是采用了微焦點(diǎn)X射線源和高分辨率探測(cè)器，能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)微小細(xì)節(jié)的清晰成像，為醫(yī)生提供了更為準(zhǔn)確、詳細(xì)的診斷信息。微焦點(diǎn)CT的工作原理與常規(guī)CT相似，都是通過(guò)旋轉(zhuǎn)X射線源和探測(cè)器，利用X射線穿透物體后被吸收的程度不同，形成不同的灰度值，再通過(guò)計(jì)算機(jī)重建出物體的三維圖像。但該產(chǎn)品的X射線源采用的是微焦點(diǎn)設(shè)計(jì)，其焦點(diǎn)尺寸更小，可以實(shí)現(xiàn)更高的空間分辨率。同時(shí)，該產(chǎn)品還配備了高分辨率的探測(cè)器，可以捕捉到更多...

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XRD平板探測(cè)器在使用時(shí)會(huì)遇到哪些問(wèn)題

XRD(X射線衍射)是一種常用的材料表征技術(shù)，用于分析材料的晶體結(jié)構(gòu)和晶體質(zhì)量。然而在使用過(guò)程中，可能會(huì)出現(xiàn)一些故障。樣品制備就是其中一個(gè)關(guān)鍵的步驟，對(duì)此有以下一些要求：1.對(duì)于金屬樣品如塊狀、板狀、圓拄狀，需要磨成一個(gè)平面，面積不小于10X10毫米。如果面積太小可以用幾塊粘貼一起。此外，制樣時(shí)需要注意樣品的面積、表面潔凈度與表面平整程度。2.在研磨過(guò)程中，需要不斷過(guò)篩，分出已經(jīng)細(xì)化的顆粒。對(duì)于軟而不便于研磨的物質(zhì)，可以采用液氮或干冰使其變脆，以便于研磨。3.有些樣品需要用整...

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